二次離子質(zhì)譜儀的采樣與分析過(guò)程介紹

 

　　1、采樣準(zhǔn)備：

 

　　首先，需要將待分析的樣品表面進(jìn)行準(zhǔn)備。通常情況下，樣品表面需要進(jìn)行平整處理，以消除表面的粗糙度和污染。然后，在樣品表面上形成一個(gè)純凈、平整的區(qū)域，這可以通過(guò)磨削、切割、蝕刻等方法實(shí)現(xiàn)。

 

　　2、離子轟擊：

 

　　接下來(lái)，樣品表面會(huì)被一個(gè)離子束轟擊。離子束可以是惰性氣體（如氬氣）離子束或者聚焦的高能離子束。離子束的轟擊作用將會(huì)導(dǎo)致樣品表面上的原子和分子產(chǎn)生次級(jí)離子的發(fā)射。

 

　　3、次級(jí)離子收集：

 

　　次級(jí)離子在離子轟擊下從樣品表面發(fā)射出來(lái)后，會(huì)被一個(gè)電場(chǎng)吸引并加速到離子透鏡或者光學(xué)元件。接著，通過(guò)磁場(chǎng)和電場(chǎng)的作用，次級(jí)離子被聚焦并傳輸?shù)劫|(zhì)譜儀的離子透鏡和加速區(qū)域。

 

　　4、質(zhì)譜分析：

 

　　次級(jí)離子進(jìn)入質(zhì)譜儀后，首先會(huì)經(jīng)過(guò)一個(gè)質(zhì)量分析器。質(zhì)譜儀通常采用磁扇形型質(zhì)量分析器，通過(guò)磁場(chǎng)的作用，將不同質(zhì)量的離子軌跡彎曲，使得不同質(zhì)量的離子能夠分離出來(lái)。然后，離子被聚焦到一個(gè)離子探測(cè)器上，該探測(cè)器會(huì)測(cè)量離子的數(shù)量，并將其轉(zhuǎn)化為電信號(hào)。

 

　　5、數(shù)據(jù)分析：

 

　　最后，通過(guò)對(duì)離子信號(hào)的分析，可以得到樣品表面的成分和結(jié)構(gòu)信息。離子信號(hào)的強(qiáng)度與相應(yīng)的元素或化合物的含量相關(guān)聯(lián)。通過(guò)比對(duì)已知標(biāo)準(zhǔn)樣品的信號(hào)，可以確定未知樣品中的元素含量。此外，二次離子質(zhì)譜儀還可以通過(guò)測(cè)量次級(jí)離子的質(zhì)荷比和質(zhì)量分析器的精確控制，對(duì)樣品中的同位素進(jìn)行定量分析。