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簡要描述：二次離子質(zhì)譜儀適合做多層薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式掃描，自動測量正、負(fù)和中性粒子。
產(chǎn)品型號：SIMS Workstation廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2023-11-22訪 問 量：4194| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè) |
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二次離子質(zhì)譜儀
1. 適合做多層薄膜的深度分析。
2. 很好的、耐用的、普通目的的二次離子質(zhì)譜儀。
3. 方便使用。
4. 樣品可以手動轉(zhuǎn)換，由于分析速度快所以每天可以分析一定數(shù)量的樣品。
5. 我們的系統(tǒng)可配置快速原子槍，使我們可以輕松處理絕緣的樣品。
6. 我們還可以做元素成像（就象化學(xué)地圖）和混合模式掃描，自動測量正、負(fù)和中性粒子。
7. 我們的系統(tǒng)是典型的超高真空工作臺，很容易滿足很多其它分析的使用。 結(jié)構(gòu)緊湊，但不損失性能。真正的高性價比。
高靈敏度脈沖離子計數(shù)檢測器，7個數(shù)量級的動態(tài)范圍
SIMS 成像，分辨率在微米以下
光柵控制，增強深度分析能力
所有能量范圍內(nèi)，離子行程的小擾動，及恒定離子傳輸
差式泵3級過濾四極桿，質(zhì)量數(shù)范圍至1000amu
靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計數(shù)檢測器
Penning規(guī)和互鎖裝置可提供過壓保護
通過RS232、RS485或Ethernet LAN，軟件 MASsoft控制
上一產(chǎn)品：MAXIM濺射中性粒子質(zhì)譜儀
下一產(chǎn)品：NASE鼻腔采樣器
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